Сюда взгляните
(«Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)
Отправлено
Bill
10 ноября 2003 г. 10:57
В ответ на:
Вопрос по теме: А есть ли прога, у которой критерий аппроксимации не минимизация суммы вадратов ошибки, а минимизация максимума относительных ошибок (что больше подходит для метрологических целей) ?
отправлено diper 10 ноября 2003 г. 10:40
http://www.telesys.ru/wwwboards/mcontrol/512/messages/254218.shtml
Составить ответ
|||
Конференция
|||
Архив
Ответы
Не могли бы Вы показать ссылку на крякнутый 2D, а то никак не получается :((
—
Michail4
(10.11.2003 11:07,
пустое
)
Например здесь.
—
Bill
(10.11.2003 11:28,
пустое
,
ссылка
)
Перейти к списку ответов
|||
Конференция
|||
Архив
|||
Главная страница
|||
Содержание
|||
Без кадра
E-mail:
info@telesys.ru