Отправлено blackbit 13 июня 2003 г. 23:27 В ответ на: Интенсивность отказов микроконтроллеров отправлено Денис 13 июня 2003 г. 22:26

Ишь, "подсказать", считайте сами:

Отказы MК обсчитываются так же, как обычных ИС.
Интенсивность отказов ИС без учета влияния внешних условий
можно оценить выражением:
Lk=PIq*C*exp[A*(Tr^(-1)-Tj^(-1))]/10^6,
где
Tr-нормальная температура;
Tj-температура p-n перехода компонента;
C-коэффициент сложность ИС;
А=Еа/K, где
Еа-эквивалентная энергия активации для основных процессов
дефектообразования в ИС;
K-постоянная Больцмана;
Для логических схем:
С=0,0037+(0,00006)*Nb+(0,00000925)*G,
где
Nb-число контактных выводов корпуса;
G-число p-n переходов, затворов;
Влияние внешних условий системы технологических испытаний
оценивается формулой:
Lk'=B*PIr*PIe*N/10^6,
где
B-постоянная;
PIr-коэффициент, учитывающий систему проектирования и испытаний ИС;
PIe-коэффициент, учитывающий влияние внешних условий;
N-число активных элементов ИС.

Полная интенсивность отказов ИС определяется выражением:
Lис=Lk+Lk'

• В формуле не учитывается коэффициент кривизны программы. Если посмотреть постинги, то этот коэффициент имеет наибольший вес. — L.A.   (14.06.2003 09:25, пустое)
  • Хы хы... Верно. Можно и учесть... Но что же я совсем звереныш? — blackbit   (14.06.2003 11:57, 367 байт)
    • ;))))))))) — BLACKEAGLE   (15.06.2003 19:36, пустое)