Ответ: Для цифровых схем - ( контрольные точки + сигнатурный анализатор + генератор воздействий )* термоцикл
(«Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)
Отправлено
Tim
21 ноября 2002 г. 12:46
В ответ на:
Вопрос: уважаемые как лучше (проще) всего выявить непропай в условиях производства? может есть комбинации воздействий которые приводят к ускоренному его (непропая) выявлению?
отправлено bam 21 ноября 2002 г. 10:43
Составить ответ
|||
Конференция
|||
Архив
Ответы
Ответ: выявить неисправность труда не составляет. Вопрос в том как быстрее заставить непропай превратится в обрыв.
—
bam
(21.11.2002 13:35,
пустое
)
Перейти к списку ответов
|||
Конференция
|||
Архив
|||
Главная страница
|||
Содержание
|||
Без кадра
E-mail:
info@telesys.ru