Отправлено Алексей Владимиров 27 сентября 2001 г. 22:47 В ответ на: Ответ: отправлено AK 27 сентября 2001 г. 16:03

Все сильно зависит от того, какой запас по диф нелинейности есть у основного АЦП, а это определяется используемым методом аналого-цифрового преобразования. Если АЦП последовательного приближения, как в PIC - то результаты при использовании этого метода будут сильно зависеть от того, на каких кодах происходит усреднение...
Рекомендую попробовать около половины шкалы - чтобы коды АЦП прыгали между 1000000... и 011111... На этих кодах диф нелинейность обычно максимальна, аналогично стоит проверить и около перехода второго по старшинству разряда... Около этих кодов этот метод даст достаточно плохие результаты...

Для параллельного АЦП от такого метода скорее всего толка не будет вообще - точность резисторов там обычно соответствует разрядности.

А вот в интегрирующем АЦП (том, что в тестере), где заметной дифференциальной нелинейности просто неоткуда взяться, этот метод реально увеличит разрешение, и если бы не недостаточная стабильность соответствующих элементов, то увеличилась бы и точность. Обычно кратковременная стабильность компонентов достаточно высокая и этим методом от 12-разрядного интегрирующего АЦП действительно можно получить разрешение на уровне 16-18-20 разрядов - ограничиваться будет в первую очередь шумами...